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【48812】中科飞测-U获得主动聚集光学干与丈量专利进步光学传感器聚集精度

来源:开云体网官网    发布时间:2024-06-26 20:47:30

  (原标题:中科飞测-U获得主动聚集光学干与丈量专利,进步光学传感器聚集精度)

  金融界2023年12月28日音讯,据国家知识产权局公告,深圳中科飞测科技股份有限公司获得一项名为“一种主动聚集的光学干与丈量设备及聚集办法、存储介质“,授权公告号CN113945150B,请求日期为2021年9月。

  专利摘要显现,本请求触及一种主动聚集的光学干与丈量设备及聚集办法、存储介质,其间光学干与丈量设备包含干与光源、光学传感器、驱动组织和处理器。由处理器获取干与信号的包络曲线,依据包络曲线得到光学传感器的粗聚集方位,在粗聚集方位的预设范围内将干与信号与预设的规范干与信号作比较,得到光学传感器的精准聚集方位,从而在精准聚集方位将光学传感器聚集在被测物体的外表。技能计划经过核算粗聚集方位、精准聚集方位来逐步确认光学传感器的聚集方位,比较传统单一的包络线拟合办法,这样更可提高光学传感器的聚集精度。

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  证券之星估值剖析提示中科飞测盈余才能比较差,未来营收成长性较差。归纳基本面各维度看,股价偏高。更多

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